Szerző: " Hoffmann Veit"

Találatok száma: 2.

Friede Sebastian; Tomm Jens W.; Kühn Sergei; Hoffmann Veit; Wenzel Hans: Analysis of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers by nearfield optical microscopy.
In: Novel In-Plane Semiconductor Lasers XVI. Proceedings of SPIE (10123). International Society for Optics and Photonics, Bellingham (WA). (2017) ISBN 9781510606876; 9781510606883

Friede Sebastian; Tomm Jens W.; Kühn Sergei; Hoffmann Veit; Wenzel Hans; Weyers Markus: Near-field microscopy of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers.
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 31 (11). ISSN 0268-1242 (2016)

A lista elkészítésének dátuma 2024. december 22. 16:20:54 CET.

Bejelentkezés szerkesztőként.
Itt kérhet technikai vagy tartalmi segítséget: publicatio AT ek.szte.hu
Az SZTE Klebelsberg Könyvtár által működtetett SZTE Publicatio Repozitórium megkapta az MTMT Repozitórium Minősítő Bizottságától a "Minősített repozitórium" tanúsítványt.
SZTE Publicatio Repozitórium is powered by EPrints 3 which is developed by the School of Electronics and Computer Science at the University of Southampton. More information and software credits.