Friede Sebastian; Tomm Jens W.; Kühn Sergei; Hoffmann Veit; Wenzel Hans; Weyers Markus:
Near-field microscopy of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers.
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 31 (11).
ISSN 0268-1242
(2016)
![[thumbnail of 33298471.pdf]](http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/text.png) |
Szöveg
33298471.pdf - Megjelent verzió Korlátozott hozzáférés: SZTE polgárok számára hozzáférhető, repozitóriumba való belépés után Download (2MB) | Másolat kérése |
| Mű típusa: | Folyóiratcikk |
|---|---|
| Folyóirat/kiadvány címe: | SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY |
| Publikáció dátuma: | 2016 |
| Kötet: | 31 |
| Szám: | 11 |
| Terjedelem: | 9 |
| Közlemény azonosító: | 115015 |
| ISSN: | 0268-1242 |
| Kar/Egység: | ELI-HU |
| Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
| Nyelv: | angol |
| MTMT rekordazonosító: | 33298471 |
| DOI azonosító: | https://doi.org/10.1088/0268-1242/31/11/115015 |
| Dátum: | 2023. Júl. 27. 15:25 |
| Utolsó módosítás: | 2023. Júl. 27. 15:25 |
| URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/27978 |
| Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 2 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
 |
Tétel nézet |
Repozitóriumi letöltési statisztika
Repozitóriumi letöltési statisztika
