Clustering empirical failure rate curves for reliability prediction purposes in case of consumer electronic products

Dombi József; Jónás Tamás; Tóth Zsuzsanna Eszter: Clustering empirical failure rate curves for reliability prediction purposes in case of consumer electronic products.
QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL, 32 (3). pp. 1071-1083. ISSN 0748-8017 (2016)

[thumbnail of 2016_Clusteringempiricalfailure_jonas.pdf]

Előnézet

Szöveg
2016_Clusteringempiricalfailure_jonas.pdf - Elfogadott verzió
Download (1MB) | Előnézet

Szerző azonosítók:

Dombi József MTMT

Jónás Tamás MTMT

Tóth Zsuzsanna Eszter MTMT

Mű típusa:

Folyóiratcikk

Folyóirat/kiadvány címe:

QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL

Publikáció dátuma:

2016

Kötet:

Szám:

Oldalak:

pp. 1071-1083

ISSN:

0748-8017

Kar/Egység:

Természettudományi és Informatikai Kar

Intézmény:

Szegedi Tudományegyetem (2000-)

Nyelv:

angol

MTMT rekordazonosító:

2880381

DOI azonosító:

https://doi.org/10.1002/qre.1815

Dátum:

2019. Dec. 17. 12:24

Utolsó módosítás:

2019. Dec. 17. 12:24

URI:

http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/17651

Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 8

Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén

Actions (login required)

Tétel nézet

Repozitóriumi letöltési statisztika

Letöltések

Letöltések havi bontásban az elmúlt egy évben

Bejelentkezés szerkesztőként.
Itt kérhet technikai vagy tartalmi segítséget: publicatio AT ek.szte.hu
Az SZTE Klebelsberg Könyvtár és Levéltár által működtetett SZTE Publicatio Repozitórium megkapta az MTMT Repozitórium Minősítő Bizottságától a "Minősített repozitórium" tanúsítványt.
SZTE Publicatio Repozitórium is powered by EPrints 3 which is developed by the School of Electronics and Computer Science at the University of Southampton. More information and software credits.