Dombi József; Jónás Tamás; Tóth Zsuzsanna Eszter:
Clustering empirical failure rate curves for reliability prediction purposes in case of consumer electronic products.
QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL, 32 (3).
pp. 1071-1083.
ISSN 0748-8017
(2016)
Előnézet |
Szöveg
2016_Clusteringempiricalfailure_jonas.pdf - Elfogadott verzió Download (1MB) | Előnézet |
Mű típusa: | Folyóiratcikk |
---|---|
Folyóirat/kiadvány címe: | QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING INTERNATIONAL |
Publikáció dátuma: | 2016 |
Kötet: | 32 |
Szám: | 3 |
Oldalak: | pp. 1071-1083 |
ISSN: | 0748-8017 |
Kar/Egység: | Természettudományi és Informatikai Kar |
Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
Nyelv: | angol |
MTMT rekordazonosító: | 2880381 |
DOI azonosító: | https://doi.org/10.1002/qre.1815 |
Dátum: | 2019. Dec. 17. 12:24 |
Utolsó módosítás: | 2019. Dec. 17. 12:24 |
URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/17651 |
Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 7 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
Tétel nézet |