Tóth Zsolt; Hanyecz István; Gárdián Anett; Budai Judit; Csontos János; Pápa Zsuzsanna; Füle Miklós Jenő:
Ellipsometric analysis of silicon surfaces textured by ns and sub-ps KrF laser pulses.
THIN SOLID FILMS, 571 (3).
pp. 631-636.
ISSN 0040-6090
(2014)
Szöveg
Ellipsometric analysis of textured Si_Toth.pdf - Megjelent verzió Zárt hozzáférés: Csak az archívum karbantartója Download (815kB) |
Mű típusa: | Folyóiratcikk |
---|---|
Folyóirat/kiadvány címe: | THIN SOLID FILMS |
Publikáció dátuma: | 2014 |
Kötet: | 571 |
Szám: | 3 |
Oldalak: | pp. 631-636 |
ISSN: | 0040-6090 |
Kar/Egység: | Természettudományi és Informatikai Kar |
Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
Nyelv: | angol |
MTMT rekordazonosító: | 2537453 |
DOI azonosító: | https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.10.102 |
Dátum: | 2017. Máj. 18. 17:07 |
Utolsó módosítás: | 2019. Okt. 30. 14:45 |
URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/9236 |
Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 6 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
Tétel nézet |