Friede Sebastian; Tomm Jens W.; Kühn Sergei; Hoffmann Veit; Wenzel Hans:
Analysis of waveguide architectures of InGaN/GaN diode lasers by nearfield optical microscopy.
In:
Novel In-Plane Semiconductor Lasers XVI.
Proceedings of SPIE
(10123).
International Society for Optics and Photonics, Bellingham (WA).
(2017)
ISBN 9781510606876; 9781510606883
![[thumbnail of 33298452.pdf]](http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/text.png) |
Szöveg
33298452.pdf - Megjelent verzió Zárt hozzáférés: Csak az archívum karbantartója Download (430kB) | Másolat kérése |
| Mű típusa: | Könyv része |
|---|---|
| Publikáció dátuma: | 2017 |
| Szám: | 10123 |
| Terjedelem: | 7 |
| Közlemény azonosító: | 1012308 |
| ISBN: | 9781510606876; 9781510606883 |
| Kiadó: | International Society for Optics and Photonics |
| Kiadás helye: | Bellingham (WA) |
| Kar/Egység: | ELI-HU |
| Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
| Nyelv: | angol |
| MTMT rekordazonosító: | 33298452 |
| DOI azonosító: | https://doi.org/10.1117/12.2249563 |
| Dátum: | 2024. Júl. 04. 08:35 |
| Utolsó módosítás: | 2024. Júl. 04. 08:35 |
| URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/33981 |
Actions (login required)
 |
Tétel nézet |
Repozitóriumi letöltési statisztika
Repozitóriumi letöltési statisztika
