Égerházi László; Smausz Kolumbán Tomi; Bari Ferenc:
Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition.
APPLIED SURFACE SCIENCE, 278.
pp. 106-110.
ISSN 0169-4332
(2013)
![[thumbnail of fractalanalysis.pdf]](http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/text.png) |
Szöveg
fractalanalysis.pdf - Megjelent verzió Zárt hozzáférés: Csak az archívum karbantartója Download (1MB) | Másolat kérése |
| Mű típusa: | Folyóiratcikk |
|---|---|
| Folyóirat/kiadvány címe: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| Publikáció dátuma: | 2013 |
| Kötet: | 278 |
| Szám: | 0 |
| Oldalak: | pp. 106-110 |
| ISSN: | 0169-4332 |
| Kar/Egység: | Általános Orvostudományi Kar |
| Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
| Nyelv: | angol |
| MTMT rekordazonosító: | 2356333 |
| DOI azonosító: | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.02.135 |
| Dátum: | 2020. Feb. 10. 11:21 |
| Utolsó módosítás: | 2020. Feb. 10. 11:21 |
| URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/18190 |
| Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 6 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
 |
Tétel nézet |
Repozitóriumi letöltési statisztika
Repozitóriumi letöltési statisztika
