Égerházi László; Smausz Kolumbán Tomi; Bari Ferenc:
Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition.
APPLIED SURFACE SCIENCE, 278.
pp. 106-110.
ISSN 0169-4332
(2013)
![]() |
Szöveg
fractalanalysis.pdf - Megjelent verzió Zárt hozzáférés: Csak az archívum karbantartója Download (1MB) | Másolat kérése |
Szerző azonosítók: |
|
|||
---|---|---|---|---|
Mű típusa: | Folyóiratcikk | |||
Folyóirat/kiadvány címe: | APPLIED SURFACE SCIENCE | |||
Publikáció dátuma: | 2013 | |||
Kötet: | 278 | |||
Szám: | 0 | |||
Oldalak: | pp. 106-110 | |||
ISSN: | 0169-4332 | |||
Kar/Egység: | Általános Orvostudományi Kar | |||
Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem (2000-) | |||
Nyelv: | angol | |||
MTMT rekordazonosító: | 2356333 | |||
DOI azonosító: | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.02.135 | |||
Dátum: | 2020. Feb. 10. 11:21 | |||
Utolsó módosítás: | 2020. Feb. 10. 11:21 | |||
URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/18190 |
Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 6 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
![]() |
Tétel nézet |