Égerházi László; Geretovszky Zsolt; Csákó Tamás; Szörényi Tamás:
Atomic force microscopic characterization of films grown by inverse pulsed laser deposition.
APPLIED SURFACE SCIENCE, 252.
pp. 4661-4666.
ISSN 0169-4332
(2006)
![[thumbnail of Atomicforcemicroscopiccharacterizationoffilmsgrownbyinversepulsedlaserdeposition.pdf]](http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/style/images/fileicons/text.png) |
Szöveg
Atomicforcemicroscopiccharacterizationoffilmsgrownbyinversepulsedlaserdeposition.pdf - Megjelent verzió Korlátozott hozzáférés: SZTE polgárok számára hozzáférhető, repozitóriumba való belépés után Download (531kB) | Másolat kérése |
| Mű típusa: | Folyóiratcikk |
|---|---|
| Folyóirat/kiadvány címe: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| Publikáció dátuma: | 2006 |
| Kötet: | 252 |
| Oldalak: | pp. 4661-4666 |
| ISSN: | 0169-4332 |
| Kar/Egység: | Természettudományi és Informatikai Kar |
| Intézmény: | Szegedi Tudományegyetem |
| Nyelv: | angol |
| MTMT rekordazonosító: | 155801 |
| DOI azonosító: | https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.07.083 |
| Dátum: | 2020. Feb. 04. 08:45 |
| Utolsó módosítás: | 2020. Feb. 04. 08:45 |
| URI: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/18152 |
| Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 8 | Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén |
Actions (login required)
 |
Tétel nézet |
Repozitóriumi letöltési statisztika
Repozitóriumi letöltési statisztika
