English

Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions

Csontos János, Tóth Zsolt, Pápa Zsuzsanna, Gábor B., Füle Miklós Jenő, Gilicze Barnabás, Budai Judit: Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions.
APPLIED SURFACE SCIENCE, 421 (Part B). pp. 325-330. ISSN 0169-4332 (2017)

[img] Szöveg
3275473.pdf - Megjelent verzió
Korlátozott. Csak az archivum karbantartója
Download (1MB) | Másolat kérése
Mű típusa: Cikk
Kar: Fogorvostudományi Kar
Természettudományi és Informatikai Kar
Intézmény: Szegedi Tudományegyetem
A mű MTMT azonosítója: 3275473
DOI azonosító: 10.1016/j.apsusc.2017.03.186
Dátum: 2017. Okt. 18. 11:37
Utolsó módosítás: 2017. Okt. 18. 11:37
URI: http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/12116

Actions (login required)

Tétel nézet Tétel nézet
Letöltési statisztika

Letöltések

Letöltések havi bontásban az elmúlt egy évben

Itt kérhet technikai vagy tartalmi segítséget: contenta AT bibl.u-szeged.hu
Az SZTE Klebelsberg Könyvtár által működtetett SZTE Publicatio Repozitórium megkapta az MTMT Repozitórium Minősítő Bizottságától a "Minősített repozitórium" tanúsítványt.
Publicatio is powered by EPrints 3 which is developed by the School of Electronics and Computer Science at the University of Southampton. More information and software credits.