Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions

Csontos János; Tóth Zsolt; Pápa Zsuzsanna; Gábor B.; Füle Miklós Jenő; Gilicze Barnabás; Budai Judit: Ultrafast in-situ null-ellipsometry for studying pulsed laser – Silicon surface interactions.
APPLIED SURFACE SCIENCE, 421 (Part B). pp. 325-330. ISSN 0169-4332 (2017)

[thumbnail of 3275473.pdf] Szöveg
3275473.pdf - Megjelent verzió
Zárt hozzáférés: Csak az archívum karbantartója

Download (1MB) | Másolat kérése
Mű típusa: Folyóiratcikk
Folyóirat/kiadvány címe: APPLIED SURFACE SCIENCE
Publikáció dátuma: 2017
Kötet: 421
Szám: Part B
Oldalak: pp. 325-330
ISSN: 0169-4332
Kiadó: Elsevier
Kar/Egység: Fogorvostudományi Kar
Természettudományi és Informatikai Kar
Intézmény: Szegedi Tudományegyetem
Nyelv: angol
MTMT rekordazonosító: 3275473
DOI azonosító: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.03.186
Dátum: 2017. Okt. 18. 11:37
Utolsó módosítás: 2020. Feb. 10. 11:54
URI: http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/12116
Hivatkozások száma a Web of Science® -ben: 5 Idéző cikkek megtekintése a Web of Science® felületén

Actions (login required)

Tétel nézet Tétel nézet

Letöltések

Letöltések havi bontásban az elmúlt egy évben