Relating Code Coverage, Mutation Score and Test Suite Reducibility to Defect Density

Tengeri Dávid; Vidács László; Beszédes Árpád; Jász Judit; Balogh Gergő; Vancsics Béla; Gyimóthy Tibor: Relating Code Coverage, Mutation Score and Test Suite Reducibility to Defect Density.
In: 2016 IEEE Ninth International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW). IEEE Computer Society, USA, pp. 174-179. (2016) ISBN 978-1-5090-1826-0

[thumbnail of mutation2016-defectdensity.pdf]
Előnézet
Szöveg
mutation2016-defectdensity.pdf - Benyújtott verzió

Download (408kB) | Előnézet
[thumbnail of ICSTW 2016_tartj.pdf]
Előnézet
Szöveg
ICSTW 2016_tartj.pdf - Megjelent verzió

Download (14MB) | Előnézet
Mű típusa: Könyv része
Publikáció dátuma: 2016
Oldalak: pp. 174-179
ISBN: 978-1-5090-1826-0
Kiadó: IEEE Computer Society
Kiadás helye: USA
Kar/Egység: Természettudományi és Informatikai Kar
Intézmény: Szegedi Tudományegyetem
Nyelv: angol
MTMT rekordazonosító: 3109514
Dátum: 2017. Jan. 26. 16:09
Utolsó módosítás: 2019. Jún. 05. 10:04
URI: http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/id/eprint/10372

Actions (login required)

Tétel nézet Tétel nézet

Letöltések

Letöltések havi bontásban az elmúlt egy évben